電磁適合特性試験設備

電磁適合特性試験設備は、ロケットや宇宙機に搭載する電子機器について、電磁的相互干渉による機能低下の有無を確認する設備です。本設備では、供試体から発生する電磁雑音の測定を行う「雑音系試験」と、供試体に電磁雑音を与え、供試体が正常に機能するかを確認する「感受性系試験」が行われています。
試験は電子機器などを外来雑音電磁波から遮断する、シールドルームの中で行います。「雑音系試験」では供試体が空間に放射する電磁雑音をアンテナにより測定し、ケーブルなどを伝ってくる電磁雑音を電流プローブを用いて測定します。また「感受性系試験」は、電界センサを用いてフィードバック制御した電磁雑音を供試体に与えたり、供試体のケーブルに信号発生装置を接続し、電磁雑音を供試体に加えることができます。
40 GHz対応の試験装置を有し、米軍規格、および国際宇宙ステーション(ISS)からの要求に対応したレベルでの試験が可能です。

システム構成図

電磁適合特性試験設備 システム構成図

仕様

試験装置 米軍規格(MIL-STD-461C等)及び国際宇宙ステーションの要求(SSP30237)における伝導、放射の輻射測定及び感受性試験に対応
シールドルーム 内部有効寸法 幅10 m、奥行き10 m、高さ8.8 m
シールド特性 電界に対して10 kHz〜40 GHz 100 dB以上/磁界に対して15 kHz〜200 kHz 85 dB以上
電波吸収特性 6 dB@80~250 MHz、0 dB@250 MHz以上

利用実績

SELENE(かぐや)/HTV/はやぶさ2搭載センサ/ISS搭載モジュール など

供用試験: 航空機搭載機器 など